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?AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
?AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

LiteScope

品牌

飛納

產(chǎn)地

荷蘭

樣本

暫無
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

金牌會(huì)員

|

第8年

|

代理商

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核心參數(shù)
  • 誤差率:

    -
  • 分辨率:

    0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm
  • 重現(xiàn)性:

    -
  • 儀器原理:

    其他
  • 分散方式:

    -
  • 測(cè)量時(shí)間:

    -
  • 測(cè)量范圍:

    21 mm x 11 mm x 8 mm
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AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

革命性的原子力顯微鏡(AFM),可實(shí)現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無縫集成,為原位關(guān)聯(lián)顯微鏡開辟新可能。

憑借優(yōu)化設(shè)計(jì),LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,其他品牌電鏡亦可定制適配。

 

測(cè)量模式:

• 機(jī)械性能:AFM,能量耗散,相位成像

• 電性能:C-AFM、KPFM、EFM、STM

• 磁性能:MFM

• 電機(jī)械性:PFM

• 光譜學(xué):F-z

 曲線,I-V 曲線

• 相關(guān)性分析:CPEM


AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

實(shí)用特點(diǎn)

  • 原位樣品表征

在 SEM 內(nèi)部的原位條件下確保樣品分析同時(shí)、同地、同條件下進(jìn)行,并且在飛納電鏡內(nèi)部也能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率

  • 精確定位感興趣區(qū)域

    SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,保證了同一時(shí)間、同一地點(diǎn)和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,實(shí)時(shí)觀測(cè)探針與樣品的相對(duì)位置,為探針提供導(dǎo)航,精準(zhǔn)定位

  • 實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的樣品分析需求

    提供電氣、磁學(xué)、光譜等多種測(cè)量模式,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時(shí)獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),并將其無縫關(guān)聯(lián)



應(yīng)用案例

鋼和合金的復(fù)合分析

利用原子力顯微鏡對(duì)雙相鋼進(jìn)行復(fù)合分析,揭示了表面形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結(jié)構(gòu)(MFM)、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質(zhì)開爾文 探針力顯微分析法。 • 相關(guān)多模態(tài)分析揭示了復(fù)雜的性質(zhì) • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析


電池的原位表征

固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度、更長(zhǎng)的壽命和更 好的安全性。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個(gè)周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測(cè)量。

 樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)

• 在 CAM 橫截面處對(duì)局部電導(dǎo)率(C-AFM)進(jìn)行表征

• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM


納米線的先進(jìn)表征

懸掛蜘蛛絲納米線因其獨(dú)特的機(jī)械性能而被研究,通過超精確定位AFM 尖端在懸掛的納米線上。力-距離光譜學(xué)使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能。

樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE)。

• SEM: 精確定位 AFM 尖端和納米線變形的實(shí)時(shí)觀察

• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強(qiáng)度




選配件

納米壓痕模塊

納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時(shí)進(jìn) 行微機(jī)械實(shí)驗(yàn),并利用 LiteScope 以亞納米級(jí)分辨率對(duì)壓痕樣品進(jìn)行 分析

NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)

在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨(dú)立 AFM 使用,通過數(shù)碼 相機(jī)精確導(dǎo)航探針。

樣品旋轉(zhuǎn)模塊

適用于 FIB 后進(jìn)行 AFM 分析。此外還允許同時(shí)安裝多個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)試。



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2020-12-21

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
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