參考價(jià)格
面議型號(hào)
LiteScope品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無誤差率:
-分辨率:
0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm重現(xiàn)性:
-儀器原理:
其他分散方式:
-測(cè)量時(shí)間:
-測(cè)量范圍:
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AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
革命性的原子力顯微鏡(AFM),可實(shí)現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無縫集成,為原位關(guān)聯(lián)顯微鏡開辟新可能。
憑借優(yōu)化設(shè)計(jì),LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,其他品牌電鏡亦可定制適配。
測(cè)量模式:
• 機(jī)械性能:AFM,能量耗散,相位成像
• 電性能:C-AFM、KPFM、EFM、STM
• 磁性能:MFM
• 電機(jī)械性:PFM
• 光譜學(xué):F-z
曲線,I-V 曲線
• 相關(guān)性分析:CPEM
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
實(shí)用特點(diǎn)
原位樣品表征
在 SEM 內(nèi)部的原位條件下確保樣品分析同時(shí)、同地、同條件下進(jìn)行,并且在飛納電鏡內(nèi)部也能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率
精確定位感興趣區(qū)域
SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,保證了同一時(shí)間、同一地點(diǎn)和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,實(shí)時(shí)觀測(cè)探針與樣品的相對(duì)位置,為探針提供導(dǎo)航,精準(zhǔn)定位
實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的樣品分析需求
提供電氣、磁學(xué)、光譜等多種測(cè)量模式,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時(shí)獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),并將其無縫關(guān)聯(lián)
應(yīng)用案例
鋼和合金的復(fù)合分析
利用原子力顯微鏡對(duì)雙相鋼進(jìn)行復(fù)合分析,揭示了表面形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結(jié)構(gòu)(MFM)、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質(zhì)開爾文 探針力顯微分析法。 • 相關(guān)多模態(tài)分析揭示了復(fù)雜的性質(zhì) • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析
電池的原位表征
固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度、更長(zhǎng)的壽命和更 好的安全性。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個(gè)周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測(cè)量。
樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)
• 在 CAM 橫截面處對(duì)局部電導(dǎo)率(C-AFM)進(jìn)行表征
• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM
納米線的先進(jìn)表征
懸掛蜘蛛絲納米線因其獨(dú)特的機(jī)械性能而被研究,通過超精確定位AFM 尖端在懸掛的納米線上。力-距離光譜學(xué)使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能。
樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE)。
• SEM: 精確定位 AFM 尖端和納米線變形的實(shí)時(shí)觀察
• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強(qiáng)度
選配件
納米壓痕模塊
納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時(shí)進(jìn) 行微機(jī)械實(shí)驗(yàn),并利用 LiteScope 以亞納米級(jí)分辨率對(duì)壓痕樣品進(jìn)行 分析
NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)
在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨(dú)立 AFM 使用,通過數(shù)碼 相機(jī)精確導(dǎo)航探針。
樣品旋轉(zhuǎn)模塊
適用于 FIB 后進(jìn)行 AFM 分析。此外還允許同時(shí)安裝多個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)試。
暫無數(shù)據(jù)!
今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
"中國材料大會(huì) 2025 暨新材料科研儀器與設(shè)備展"是中國新材料領(lǐng)域的國家級(jí)品牌大會(huì),是推動(dòng)中國新材料發(fā)展的前沿學(xué)術(shù)交流的超萬人學(xué)術(shù)盛會(huì),近百位院士出席,國內(nèi)外材料大家、企業(yè)大咖、
2025 年 6 月 19 - 20 日,飛納電鏡線下用戶培訓(xùn)會(huì)在著名古城武漢成功舉辦。本次培訓(xùn)會(huì)吸引了來自高校、科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)的用戶參與,為大家提供了一個(gè)深入學(xué)習(xí)飛納電鏡操作與應(yīng)用的絕佳平臺(tái)。培訓(xùn)會(huì)
在科技飛速發(fā)展的今天,氣體傳感器的開發(fā)對(duì)于環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)安全以及健康醫(yī)療等領(lǐng)域具有至關(guān)重要的意義。近期,VSParticle與Materials Center Leoben Forschung Gmb
掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具,憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力,已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工
掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略:從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡(SEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展,現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌
用戶案例|讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時(shí)”,Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究!在地質(zhì)研究中,“時(shí)間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中,巖漿從深部穿越地殼、與圍