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200-500萬元型號
N70品牌
NEOSCAN 臺式顯微 CT產(chǎn)地
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N70 通用型臺式顯微CT介紹
N70 通用性臺式顯微 CT 具有**的樣品倉室,可進行大樣品檢測。同時具備快速掃描的能力, 可以在較短的時間內(nèi)完成高質(zhì)量的成像。 這使得 N70 非常適合需要快速獲得結(jié)果的實驗和研究項目,性價比好。
為什么選擇 N70 通用型臺式顯微 CT
快速掃描,圖像質(zhì)量出眾:7M 平板探測器,可快速掃描樣品,同時獲得高圖像質(zhì)量
高分辨,應(yīng)用范圍廣泛: X 射線源電壓可高達 100 kV,適用于地質(zhì)、復(fù)合材料、骨骼、牙科、電子等領(lǐng)域...
大倉室體積,樣品尺寸大: 適用任意尺寸、任意形狀的樣品,兼容高達 100 mm、長度 220 mm 的大物體,無需特別的樣品制備過程
一體化軟件,免費升級:整合了掃描、重構(gòu)、計算、輸出模型等多種功能,軟件免費,界面直觀易用
【應(yīng)用領(lǐng)域】
材料:力學(xué)性能分析,應(yīng)力分布和斷裂點分析
材料:3D打印零件精度分析和缺陷分析
材料:鋰電池內(nèi)部分層結(jié)構(gòu)
材料:碳纖維材料缺陷分析
材料:混凝土力學(xué)性能和裂縫分析
材料:過濾效率,過濾器堵塞和壽命研究
醫(yī)學(xué):牙科填料研究
醫(yī)學(xué):骨科骨小梁結(jié)構(gòu)分析
醫(yī)學(xué):人造關(guān)節(jié)形態(tài)尺寸研究
法醫(yī):物證鑒定
生物:小動物高精度掃描,生物進化、分類研究
農(nóng)業(yè):根系分布研究,種質(zhì)改良
農(nóng)業(yè):植物表型提取
食品:面團發(fā)酵過程和冰淇淋結(jié)構(gòu)分析,口感改良
制藥:分析不同壓縮方法帶來的藥片內(nèi)部裂縫和孔隙,改進片劑壓縮工藝
制藥:分析膠囊微孔和涂層對內(nèi)容物釋放的影響,優(yōu)化膠囊設(shè)計和工藝
3D打?。褐圃炀确治?br/>機械加工:鋁合金鑄件內(nèi)部孔洞分析和工藝優(yōu)化
機械加工:零件質(zhì)量檢測,誤差分析
電子:PCB電路板上的錫焊空洞
電子:LED封裝缺陷測試
考古:透過化石表面沉積物分析內(nèi)部結(jié)構(gòu)
地質(zhì):砂巖粒度和孔隙率分析,評估石油提取容易程度
【應(yīng)用成像示例】
暫無數(shù)據(jù)!
今年 11 月 2 日起,每日早七點至晚八點,包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因為新能源汽車車牌較容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進入微利時代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
科技浪潮下的電鏡革新,呈現(xiàn)雙軌發(fā)展趨勢:一軌駛向極致,前沿透射電鏡不斷突破觀測極限;另一軌通向普及,操作便捷、臺式小型化的設(shè)備越來越受科研人員的青睞。曾是頂尖團隊或大型電鏡中心的“專屬”設(shè)備,如今正逐
鋰電池失效分析隨著新能源技術(shù)的飛速發(fā)展,鋰電池已成為現(xiàn)代科技不可或缺的一部分,廣泛應(yīng)用于從便攜式電子設(shè)備到電動汽車的各個領(lǐng)域。然而,鋰電池的失效問題一直是行業(yè)關(guān)注的焦點。失效不僅影響設(shè)備的性能和使用壽
Chapter 1研究背景與意義在催化領(lǐng)域,精準控制金屬納米顆粒的尺寸與形貌是提升催化性能的核心策略之一。傳統(tǒng)研究多聚焦于防止貴金屬的燒結(jié)失活,而對如何主動促進過渡金屬燒結(jié)以獲取更大顆粒的研究卻相對匱
生物樣品最佳觀察時間往往稍縱即逝,而傳統(tǒng)透射電鏡(TEM)的漫長檔期讓關(guān)鍵研究被迫等待,亞納米級分辨率雖強,卻難解燃眉之急。Pharos STEM 臺式場發(fā)射生物電鏡——把實驗室級分辨率,裝
摘要:隨著汽車工業(yè)對質(zhì)量與可靠性的要求日益提升,汽車清潔度檢測已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對微小顆粒的識別需求,因此,先進的掃描電鏡(SEM)技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測工具,憑借其納米級分辨率和強大的表征能力,已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工