加速電壓：
4.8kV-20.5kV連續(xù)可調(diào)電子槍：
CeB6電子光學(xué)放大：
200,000X光學(xué)放大：
3-19X分辨率：
小于 8nm探測(cè)器：
BSD, SED (可選), EDS (可選)看了飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL的用戶又看了
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飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2
Phenom XL （電鏡腔室 100mm x 100mm）具有飛納電鏡系列以下優(yōu)點(diǎn)：
超高分辨
—— 10 nm，**采用長壽命 1500 小時(shí)、高亮度的 CeB6 燈絲
快速成像
—— 抽真空時(shí)間小于 30 秒
簡(jiǎn)易操作
—— 光學(xué) + 低倍電子導(dǎo)航定位，結(jié)合全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)移動(dòng)觀測(cè)位置
直接觀測(cè)絕緣體
—— 低真空設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)不噴金看絕緣體，且不影響燈絲壽命
高度自動(dòng)化
—— 自動(dòng)聚焦，自動(dòng)調(diào)節(jié)對(duì)比度亮度，拍照簡(jiǎn)單快速
放置環(huán)境無特殊要求
—— 無需獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室，無需超凈間
防震設(shè)計(jì)
—— 緊湊的一體化設(shè)計(jì)，可不用防震臺(tái)擺放在高層
產(chǎn)品參數(shù)
光學(xué)顯微鏡：放大 3-16 倍
電子顯微鏡：200,000 倍
探測(cè)器：高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器
燈絲材料：1,500 小時(shí) CeB6 燈絲
分辨率：優(yōu)于 8 nm
放置環(huán)境：采用專業(yè)防震設(shè)計(jì)，可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠房
加速電壓：4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)
抽真空時(shí)間：小于 30 秒
能譜儀：可選配能譜儀
同時(shí)，Phenom XL 做出了如下改進(jìn)，使其在擁有臺(tái)式掃描電鏡操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)的前提下，具備大型落地式電鏡的高分辨率、多功能和拓展性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)：
Phenom XL 大樣品室**版可選配所有的拓展功能軟件選件，如 3D 粗糙度重建，纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)，顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)，孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)。
● 全自動(dòng)顯微平臺(tái)Phenom XL + 拉伸臺(tái)
飛納電鏡此次的新品發(fā)布會(huì)上會(huì)呈現(xiàn)的產(chǎn)品——拉伸臺(tái)。此產(chǎn)品也是飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom XL 一項(xiàng)重大拓展。拉伸臺(tái)是一種動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺(tái)的**特點(diǎn)是,在進(jìn)行應(yīng)力—應(yīng)變力學(xué)定量測(cè)試的同時(shí), 利用掃描電鏡的強(qiáng)大的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行動(dòng)態(tài)研究。拉伸臺(tái)可以為很多材料做拉伸測(cè)試，如金屬材料(研究韌斷過程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料，陶瓷材料等。飛納臺(tái)式掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)能實(shí)現(xiàn) 2N to 1000N 的拉力區(qū)間，拉伸速度可實(shí)現(xiàn) 0.1mm/min 到 15mm/min，滿足幾乎所有領(lǐng)域樣品的原位拉伸觀測(cè)。
飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 拉伸臺(tái)
顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)
顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片，并生成報(bào)告。借助該軟件，用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數(shù)據(jù)。憑借遠(yuǎn)超光鏡的放大倍數(shù)，顆粒軟件全自動(dòng)化的測(cè)量，可以把工業(yè)粉末的設(shè)計(jì)、研發(fā)和品管提升到一個(gè)新臺(tái)階。
借助顆粒系統(tǒng)軟件，用戶可隨時(shí)獲得數(shù)據(jù)。因此，它加快了分析速度，并提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
臺(tái)式掃描電鏡在粉末冶金領(lǐng)域的應(yīng)用
1. 粉體形貌、粒度觀察（<10000×，低壓SED）
2. 粉體粒度統(tǒng)計(jì)（使用飛納電鏡軟件-顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)）
3. 燒結(jié)件缺陷檢查（使用飛納電鏡軟件-超大視野自動(dòng)全景拼圖）
4. 成品表面質(zhì)量檢查+雜質(zhì)判定（掃描電鏡+能譜）
5. 脫脂前后形貌觀察
拉伸臺(tái)，顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
"中國材料大會(huì) 2025 暨新材料科研儀器與設(shè)備展"是中國新材料領(lǐng)域的國家級(jí)品牌大會(huì)，是推動(dòng)中國新材料發(fā)展的前沿學(xué)術(shù)交流的超萬人學(xué)術(shù)盛會(huì)，近百位院士出席，國內(nèi)外材料大家、企業(yè)大咖、
2025 年 6 月 19 - 20 日，飛納電鏡線下用戶培訓(xùn)會(huì)在著名古城武漢成功舉辦。本次培訓(xùn)會(huì)吸引了來自高校、科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)的用戶參與，為大家提供了一個(gè)深入學(xué)習(xí)飛納電鏡操作與應(yīng)用的絕佳平臺(tái)。培訓(xùn)會(huì)
在科技飛速發(fā)展的今天，氣體傳感器的開發(fā)對(duì)于環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)安全以及健康醫(yī)療等領(lǐng)域具有至關(guān)重要的意義。近期，VSParticle與Materials Center Leoben Forschung Gmb
掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具，憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力，已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工
掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略：從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡（SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展，現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時(shí)”，Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究！在地質(zhì)研究中，“時(shí)間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍
飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL的工作原理介紹？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL的使用方法？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL多少錢一臺(tái)？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL使用的注意事項(xiàng)飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL的說明書有嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL的操作規(guī)程有嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL有現(xiàn)貨嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL包安裝嗎？
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