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團體標準《晶體生長用高純碳化硅粉體》發(fā)布!


來源:中國粉體網   空青

[導讀]  團體標準《晶體生長用高純碳化硅粉體》發(fā)布。

中國粉體網訊  2025年8月1日,中國電子材料行業(yè)協會官網發(fā)函,批準發(fā)布團體標準《晶體生長用高純碳化硅粉體》,并予以公示,團體標準編號為“T/CEMIA 049-2025”,實施日期是2025年11月1日。



該團體標準適用于純度不低于99.9999wt%(6N)的晶體生長用高純碳化硅粉體,規(guī)定了晶體生長用高純碳化硅粉體的技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則和包裝、標志、運輸及貯存。


近年來,制備高純SiC粉料逐漸成為SiC單晶生長領域的研究熱點。生長SiC單晶用的SiC粉體純度要求很高,雜質含量應至少低于0.001%,此外,碳化硅粉料的各項參數都直接影響單晶生長的質量以及電學性能。而碳化硅襯底使用環(huán)境的不同,生長用粉料合成技術也存在工藝不同,對于N型導電性單晶生長用粉料,要求純度高、物相單一;而對于半絕緣型單晶生長用粉料,則需要對氮含量進行嚴格的控制。


然而,由于缺乏統(tǒng)一標準,各企業(yè)對粉體指標要求不一,導致原料質量不穩(wěn)定,阻礙了下游產業(yè)發(fā)展。因此,由中國電子材料行業(yè)協會粉體技術分會提出制定《晶體生長用高純碳化硅粉體》團體標準,規(guī)范碳化硅粉體質量,滿足行業(yè)需求,以此推動整個半導體產業(yè)鏈的技術提升和健康發(fā)展。



該團體標準的發(fā)布填補了國內晶體生長用高純碳化硅粉體標準的空白,通過統(tǒng)一關鍵指標(如純度、雜質限值、粒度等),將顯著提升國產粉體質量和一致性,降低下游晶體生長環(huán)節(jié)的技術風險與驗證成本,加速國產高純碳化硅粉體的應用和替代進程,有力支撐我國第三代半導體產業(yè)鏈的自主可控與高質量發(fā)展。


來源:中國電子材料行業(yè)協會官網


(中國粉體網編輯整理/空青)

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作者:空青

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