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大昌華嘉:麥奇克 SYNC 激光粒度儀在金屬粉末的顆粒表征方法


來源:大昌華嘉科學儀器部


本文中,我們展示了使用Microtrac的SYNC分析儀,通過動態(tài)圖像分析(DIA)和激光衍射(LD)技術,表征了典型的金屬粉末和金屬合金的尺寸和形狀。這些儀器的優(yōu)點是分析時間短,重復性好,以及極佳的分辨率。對于每個單獨的顆粒,測量給出了許多不同的尺寸和形狀參數(shù),測量一結束即刻得到所有數(shù)據(jù)。形狀參數(shù)以各種粒度的比例表征,通常數(shù)值范圍從0到1。每個參數(shù)的數(shù)據(jù)可以以體積和數(shù)量分布方式用頻率分布和累積分布表征,每個單個粒子都有完整的參數(shù)數(shù)據(jù)集。


SYNC: 結合動態(tài)圖像分析(DIA)和激光衍射(LD)分析儀

新穎的SYNC分析儀是一個革命性的儀器,將LD和DIA技術結合在一起,可同時在相同的樣品池中測量相同的樣品。LD(一種光散射)技術已經(jīng)被金屬粉末工業(yè)使用了幾十年,用作金屬粉末供應商控制粒度分布的出貨QC認證的實際標準,以及粉末冶金生產(chǎn)商的來料QC驗證。


SYNC的光學工作臺如圖1所示。三個激光,有藍色和紅色兩種顏色可供選擇,線性二極管探測器陣列使經(jīng)過顆粒的散射光被收集的范圍高達163度。相對于大顆粒,小顆粒的散射光在較大角度,散射光強度較低。SYNC的LD算法通過測量的光通量分布反向計算顆粒粒度分布。使用改進的Mie理論,算法修正了非球形和半透明顆粒。同時,快速LED頻閃燈照亮粒子,一組光學裝置聚焦樣品透射光,數(shù)碼相機拍攝顆粒圖像的完整的視頻文件。

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圖1. SYNC的光學平面圖,結合了DIA和LD技術。


圖2為用于金屬粉末工業(yè)的LD粒度分布報告

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圖2:來自SYNC的LD粒度分布,包括百分比,匯總統(tǒng)計值,以及頻率和累積分布圖


DIA后處理軟件的特點是顆粒查看顯示(GUI)和散點圖顯示。這些可用于鑒定和量化金屬粉批次中團聚顆粒的百分比。金屬粉末供應商可以在發(fā)貨之前回收不良批次(太多團聚顆粒),而金屬部件生產(chǎn)商可以拒絕接收不良的來料從而避免浪費時間和金錢來處理它。

 

SYNC可以使用兩個形狀參數(shù)定量金屬粉末樣品的團聚,不能單獨用粒度表征,因為這些團聚體存在于整個粒度分布中。形狀參數(shù)包括測量的長寬比和顆粒的外部邊界形成的凸度值。

 

這里將解釋一個使用SYNC的示例。這里使用的參數(shù)是寬度比長度的縱橫比 (寬長比)和實積比(Solidity)。Solidity為 1的顆粒是指具有完全外凸邊界沒有凹陷的粒子。W/L寬長比為1的顆粒是一個完美的球體。

 

使用SYNC軟件的搜索功能可以分離和量化團聚體,其中包括所有不在紅色矩形內(nèi)的顆粒,如圖3所示。樣品中團聚體占總體積的23%,占總數(shù)量的12% 。這是金屬粉末和制造業(yè)的關鍵質量控制信息。

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圖3: 用動態(tài)圖像分析儀(SYNC)分析金屬粉末的顆粒形狀。除了定量結果外,記錄的圖像還可以直觀地了解形態(tài)和尺寸差異。球形粒子具有更高的縱橫比集中在圖的右側。在以球形為主的大量顆粒中檢測到少量的不規(guī)則顆粒是DIA的一大優(yōu)點。


DIA和LD相對于其他粒度技術的優(yōu)點

對于金屬粉末,機械篩分技術仍然被一些公司用于粒度分析。篩分技術的絕對粒度下限由實際可用的最小網(wǎng)孔尺寸來定義,通常為20 μ m(氣流噴射篩分),這是遠遠高于許多AM和MIM樣品的平均粒度的。因此,氣流噴射篩分法不適用于測試細粉的精確可靠的整體尺寸分布。它經(jīng)常被用來只用一個篩網(wǎng)檢測超大顆粒的量,例如45?m或63?m篩網(wǎng)尺寸。另一個缺點是篩分技術無法給出粒子形態(tài)的信息。

 

金屬粉末行業(yè)在20世紀70年代開始用激光衍射法替代篩分法。從此,包括現(xiàn)在,激光衍射法成為這些行業(yè)廣泛應用的技術,并在這些行業(yè)有望保持其用于證明和驗證粒度分布的標準方法。激光衍射分析儀易于操作,并提供快速穩(wěn)健的結果,其技術和特點都很好理解。動態(tài)圖像分析在這些行業(yè)有快速增長,因為圖像分析可以在形狀參數(shù)上設置QC指標來控制性能,這是單獨的粒度分布無法實現(xiàn)的。

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隨著金屬注射成型和增材制造技術的日益普及,對特定性能特殊設計的金屬粉末的需求日益增加。不僅是化學成分,顆粒粒度和形狀對粉末的加工性能也至關重要。根據(jù)不同的應用,粉末必須滿足各種規(guī)格。激光衍射粒度分析已經(jīng)深深融入這些行業(yè),并將保持下去。SYNC的激光衍射(LD) + 動態(tài)圖像分析(DIA)可以提供所有有關金屬粉末尺寸和形狀的數(shù)據(jù)。DIA與電鏡/光學顯微鏡相比,可以測量更多的顆粒, 因此更加具有統(tǒng)計意義,并提供更好的重復性。一次測量只需要1到3分鐘,可實現(xiàn)樣品高通量和連續(xù)的質量控制。對于粉末生產(chǎn)商和金屬零件制造商來說,SYNC是精確、高效的工具,可以大大提高質量控制過程。


大昌華嘉科學儀器部

大昌華嘉儀器部專業(yè)提供分析儀器及設備,代理眾多歐美先進儀器,產(chǎn)品范圍包括:顆粒,物理,化學,生化,通用實驗室的各類分析儀器以及流程儀表設備,在中國的石化,化工,制藥,食品,飲料,農(nóng)業(yè)科技等諸多領域擁有大量用戶,具有良好的市場聲譽。我們的業(yè)務逐年增加,市場不斷擴大。大昌華嘉公司在中國設有多個銷售,服務網(wǎng)點,旨在為客戶提供全方位的產(chǎn)品和服務。


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