近日,百特BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀成功通過中國分析測試協(xié)會的成果評價,專家組一致認定該儀器綜合性能達到國際同類產品先進水平,部分技術具有突破性創(chuàng)新。本次成果評價會由中國分析測試協(xié)會技術部主任吳淑琪研究員主持會[更多]
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