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美國MAS 超聲波Zeta電位分析儀
美國MAS 超聲波Zeta電位分析儀

參考價(jià)格

100-150萬元

型號(hào)

Zeta-APS型

品牌

美國MAS

產(chǎn)地

美國

樣本

暫無
上海胤煌科技有限公司-傘棚燈、不溶性微粒

金牌會(huì)員

|

第7年

|

生產(chǎn)商

工商已核實(shí)

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核心參數(shù)
  • 測量范圍:

    +/-200 mv
  • 誤差率:

  • 分辨率:

  • 重現(xiàn)性:

  • 儀器原理:

    動(dòng)態(tài)光散射
  • 分散方式:

  • 測量時(shí)間:

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 高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

典型應(yīng)用:

綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

主要特點(diǎn):

1)能分析多種分散物的混合體;

2)無需依賴Double Layer模式,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

5)可準(zhǔn)確測量無水體系;

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;

8)具有自動(dòng)電位滴定功能;

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)被測樣品無需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)不需定標(biāo);

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需定標(biāo);

2)能測更寬的粒徑范圍;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

6)可適用于無水體系;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%;

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影響測量;

6)對流(convection)不影響測量;

7)可準(zhǔn)確測量無水體系;

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;

3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m



創(chuàng)新點(diǎn)

典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

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10分

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10分
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