ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品介紹
發(fā)布時(shí)間:2024/10/10 356人已觀看
簡(jiǎn)介: ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀采用下照式設(shè)計(jì),搭載先進(jìn)的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù),以及高敏變焦測(cè)距裝置,對(duì)不均勻、不規(guī)則,甚至微小件等形態(tài)的樣品,都能夠快速、精準(zhǔn)、無(wú)損檢測(cè),可輕松應(yīng)對(duì)鍍層領(lǐng)域的表面處理的過(guò)程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測(cè)和篩檢難題,被廣泛應(yīng)用于珠寶首飾、電鍍行業(yè)、汽車行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子半導(dǎo)體等多種領(lǐng)域。