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Zeta-APS高濃度納米粒度儀及Zeta電位分析儀
儀器簡介：
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
結構設計緊揍，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配)自動摘定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到**分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。
典型應用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點：
1)能分析多種分散物的混合體；
2)無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點；
3)可適用于高導電(highly conducting)體系；
4)可排除雜質及對樣品污染的干擾；
5)可精確測量無水體系；
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；
7)樣品的**濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
8)具有自動電位滴定功能；
優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋；
2)排除雜質及對樣品污染的干擾；
3)不需定標；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um
優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢：
1)無需定標；
2)能測更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導電(highly conducting)體系；
優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢：
1)無需稀釋，固合量高達60%；
2)可排除雜質及對樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測量；
6)對流(convection)不影響測量；
7)可精確測量無水體系；
技術參數：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；
2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導率范圍：0~10 s/m
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