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MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái) ----用于EBSD的材料測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品功能介紹

　　掃描電鏡中的材料允許我們?cè)谖⒔Y(jié)構(gòu)層級(jí)進(jìn)行動(dòng)態(tài)的機(jī)械特性研究。當(dāng)同時(shí)裝備EBSD設(shè)備，可以通過(guò)對(duì)晶體的結(jié)構(gòu)的分析，，實(shí)時(shí)研究材料的織構(gòu)等隨拉伸載荷和/或溫度的變化而發(fā)生的變化。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸臺(tái)設(shè)計(jì)可以對(duì)金屬樣品施加高達(dá)2000N的拉力，用戶(hù)EBSD分析，或者對(duì)一些其他材料進(jìn)行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜，為EBSD分析提供了的設(shè)置。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸臺(tái)可直接安裝在一些SEM的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上，或者在某些情況下可能需要C1000XYX替換樣品臺(tái)。該樣品臺(tái)頁(yè)可以在電子顯微鏡之外使用。
　　MICROTEST 2000E可以在拉伸或者壓縮模式下工作。配備的功能豐富的軟件能夠進(jìn)行恒速、恒載荷或低頻循環(huán)操作，以其他功能，例如按斜坡達(dá)到預(yù)設(shè)載荷。應(yīng)力應(yīng)變曲線(xiàn)可以在顯示器上實(shí)時(shí)圖形繪制，圖形顯示帶有特性游標(biāo)，可選多量程和縮放功能。MTVideo選項(xiàng)同步視頻和數(shù)據(jù)采集，從而允許隨后對(duì)變形樣品的視頻進(jìn)行詳細(xì)分析。
　　對(duì)于可變溫度研究?？梢栽贛ICROTEST 2000EW（水冷版本）平臺(tái)上EBSD的幾何位置上選配加熱夾具，加熱夾具的溫度可高達(dá)500℃。


品牌介紹

　　美國(guó)Deben公司成立于1964年并于70年代末進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)。Deben公司以其產(chǎn)品的高性能及技術(shù)的先進(jìn)性在全球電鏡界享有極高聲譽(yù)。
　　作為****的設(shè)計(jì)和制造用于增強(qiáng)和拓展電子顯微鏡功能的附件廠商，其產(chǎn)品涵蓋了從樣品制備到成像、分析等所有步驟的需求。產(chǎn)品應(yīng)用范圍包括材料科學(xué)、生命科學(xué)、地球物理學(xué)、電子學(xué)，能源科學(xué)等領(lǐng)域， 客戶(hù)范圍涵蓋全球的科研院所，高校，各類(lèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)及大型工業(yè)企業(yè)實(shí)驗(yàn)室，并且在國(guó)際科學(xué)研究領(lǐng)域得到了廣泛認(rèn)同。


經(jīng)銷(xiāo)商介紹

　　歐波同有限公司是中國(guó)**的微納米技術(shù)服務(wù)供應(yīng)商，是一家以外資企業(yè)作為投資背景的高新技術(shù)企業(yè)，總部位于香港，分別在北京、上海、遼寧、山東等地設(shè)有分公司和辦事處。作為蔡司電子顯微鏡、Deben掃描電子顯微鏡制樣設(shè)備及附屬分析設(shè)備在中國(guó)地區(qū)重要的戰(zhàn)略合作伙伴，公司秉承"打造國(guó)內(nèi)影響力的儀器銷(xiāo)售品牌"的經(jīng)營(yíng)理念，與蔡司，Deben品牌強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，正在為數(shù)以萬(wàn)計(jì)的中國(guó)用戶(hù)提供高品質(zhì)的產(chǎn)品與國(guó)際尖端技術(shù)服務(wù)。


產(chǎn)品主要技術(shù)特點(diǎn)：

1、載荷：2000N測(cè)力傳感器，精度1%量程，解析能力0.1%量程
2、長(zhǎng)度和拉伸量：夾具間距：10mm，伸長(zhǎng)量：10mm，線(xiàn)性延伸計(jì)：3μm解析能力和10μm精度
3、速度范圍：0.033mm/min– 0.4 mm/min
4 、較大樣品尺寸：29×27×5（L,W,Hmm）對(duì)EBSD樣品夾具
5、產(chǎn)品規(guī)格：196 ×96×53（L,W,Hmm）重量~3.4kg（2000ES）；~3.9kg（2000EW）

產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1、 金屬與合金：研究與應(yīng)力-應(yīng)變分析相關(guān)的晶粒的晶體學(xué)旋轉(zhuǎn)。
　　缺陷的演變和應(yīng)變的積累；
　　加熱樣品，研究再結(jié)晶
2、其他（非晶）材料：在SEM中動(dòng)態(tài)研究微裂紋擴(kuò)展及在微觀尺度上其他失效和變形機(jī)制；

 注：也可選擇MICROTEST 5000系列拉伸臺(tái)用于EBSD的材料測(cè)試系統(tǒng)