
大昌華嘉科學儀器部

已認證
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高濃電池漿料Zeta電位的表征方法
DKSH 2025/09/03 | 閱讀:65
方案詳情:
摘要 目前市場上Zeta電位的表征方法有電泳光散射技術,流動電位法以及電聲法,而電泳光散射技術是一種傳統(tǒng)的Zeta電位表征方法,在懸浮液濃度較高時結果會受到嚴重影響,因此可能需要將樣品稀釋多個數(shù)量級,得到足夠透明的懸浮液才能測量出可靠的結果。樣品的稀釋通常不會導致顆粒尺寸發(fā)生顯著變化,但它會改變 Zeta 電位,因為稀釋會改變?nèi)芤汉皖w粒表面之間建立的平衡。顆粒表面和溶液整體之間存在動態(tài)平衡,如果要獲得有意義的數(shù)據(jù),就不能破壞這些平衡。 本文采用美國Colloidal Dynamics公司(簡稱CD公司)生產(chǎn)的以多頻電聲法原理的高濃漿料Zeta電位分析儀ZetaProbe測量了高濃度電池漿料樣品的Zeta電位,并比較了不同稀釋倍數(shù)下樣品的Zeta電位,以及Zeta電位隨pH的變化情況。多頻電聲方法的最大優(yōu)點是無需稀釋直接精確測量膠體懸浮液原液的Zeta 電位,對于實際的應用具有指導意義。 本次實驗對電池行業(yè)的正負極漿料以及粘結劑在不稀釋的狀態(tài)下進行原液測量Zeta電位。采用的測量儀器是美國CD公司的高濃漿料Zeta電位分析儀。 由下表可知樣品的固含量都較高,本次測試使用攪拌杯(圖1右側樣品杯)使樣品混合均勻并防止沉淀。 樣品信息如下: 圖1. 樣品杯 (左:磁力攪拌180ml;右:機械攪拌270ml) 實驗一 Zeta電位測試(原液測量) 樣品混合均勻后取270ml樣品置于攪拌杯中,并設置合適轉速(0~500rpm),即可開始測量。 *注:kappa值為雙電層厚度的倒數(shù) 實驗二Zeta電位測試(稀釋不同倍數(shù)) 1號和4號樣品用純水稀釋不同倍數(shù)后測量Zeta電位,以討論稀釋對樣品Zeta電位的影響。 從以上實驗數(shù)據(jù)可以看出,稀釋對于Zeta電位結果有明顯的影響,對于需要大量稀釋的電泳法來說,影響將更為明顯。 實驗三 pH滴定 使用1.0mol/LKOH溶液對4號樣品進行滴定,得到如下pH-Zeta電位變化曲線,等電點(IEP)為pH11.86。 圖2. pH-zeta電位變化曲線 結論 使用ZetaProbe電位分析儀可以快速測量高濃度漿料的Zeta電位而無需稀釋,且數(shù)據(jù)重復性好又可靠。 美國CD公司生產(chǎn)的高濃漿料Zeta電位分析儀ZetaProbe是目前使用最容易使用,最準確的Zeta電位分析儀。對于高達60% v/v濃度的樣品。也無需稀釋或樣品前處理即可直接測量,儀器結構設計緊湊,具有內(nèi)置自動滴定裝置,多功能傳感器及高度人性化操作軟件,使Zeta電位的測量變得如此的簡單快速。儀器可配全自動滴定裝置自動并快速的提供等電點(IEP)測量,以及定量濃度滴定提供分散劑或絮凝劑的配方選擇。主要應用于電池正負極漿料、半導體拋光粉漿料(CMP)、陶瓷等高濃漿料以及用其它儀器很難測量的漿料都可用ZetaProbe直接進行測量。 相關產(chǎn)品 更多![]()
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