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麥克儀器公司（Micromeritics ）是全球領(lǐng)先的用于表征顆粒、粉末和多孔材料的高性能儀器生產(chǎn)商，該公司重點介紹了其全自動Micromeritics TriStar II Plus 3030三站式比表面和孔隙度分析儀。Micromeritics TriStar II Plus 3030利用高級非局部密度泛函理論(NLDFT)模型，使用戶能夠結(jié)合從氮氣和二氧化碳等溫線收集的信息，在存在分子尺寸的孔隙的材料(如碳縫孔)上提供完整的孔徑分布。與標(biāo)準(zhǔn)氮氣分析相比，該方法的孔徑分析范圍擴大到低至0.35nm 的微孔分析。使用CO2提供了進入超微孔的途徑，這些超微孔在低溫下由于動力學(xué)大小限制、連接性問題或擴散極慢而不能被N2接觸到。

作為三站式氣體吸附儀，TriStar II Plus 3030確?？焖俣娴牟牧戏治瞿芰?，從而實現(xiàn)快速而高效的質(zhì)量控制分析。此外，該分析儀還具有滿足研究要求的準(zhǔn)確度、分辨率和數(shù)據(jù)處理能力。Micromeritics公司總裁兼首席執(zhí)行官Terry Kelly表示：“TriStar II Plus 3030是一款久負(fù)盛名的比表面積和孔隙率分析儀，受到學(xué)術(shù)界和工業(yè)市場的高度贊賞，因為它為我們的客戶提供了從添加劑制造、電池和燃料電池到催化劑、納米管或制藥等廣泛應(yīng)用的最大靈活性，多種分析和數(shù)據(jù)整理突顯了我們對結(jié)構(gòu)特性提供卓越的分析能力的持續(xù)承諾。”

The TriStar II Plus可以使用氮氣、氬氣、二氧化碳和其他例如丁烷、甲烷等非腐蝕性氣體。對于很難表征的包括原料藥、輔料、研磨劑和其他低表面積(<1m2/g)的應(yīng)用，氪選項可提高這些材料的測量精度。Micromeritics MicroActive數(shù)據(jù)處理和控制軟件提供了一個簡單易用的界面，可以快速將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為精確的表面積和孔隙率信息。