參考價格
5-10萬元型號
MCP-S330?品牌
日東精工NITTOSEIKO產地
日本樣本
暫無分散方式：
100測量時間：
不限測量范圍：
300探測器：
不限加速電壓：
不限電子槍：
不限電子光學放大：
不限光學放大：
不限通道數(shù)：
不限誤差率：
不限波長準確度：
不限靈敏度：
100分辨率：
400重現(xiàn)性：
300儀器原理：
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全自動測量：測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出完全自動化，大大提高了測量效率和準確性。
大樣品尺寸測量：樣品尺寸可達300mm，可容納多個樣品，能夠繪制**300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。
多種測量方式：可以通過三種方式進行測量位置設置：網(wǎng)格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測量范圍：可連接到Loresta GX，測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能：在屏幕上標注范圍外的測量結果的測定點。
粉末測量功能：要測量粉末的體積電阻率，只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。該裝置施加給定的壓力，同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
測量范圍：10?2至10?Ω。
樣品尺寸：**300mm見方。
應用領域廣泛：適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測：導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā)：可用于電子元件和材料的開發(fā)和質量控制。
產品特點
全自動測量：測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出完全自動化，大大提高了測量效率和準確性。
大樣品尺寸測量：樣品尺寸可達300mm，可容納多個樣品，能夠繪制最大300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。
多種測量方式：可以通過三種方式進行測量位置設置：網(wǎng)格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測量范圍：可連接到Loresta GX，測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能：在屏幕上標注范圍外的測量結果的測定點。
粉末測量功能：要測量粉末的體積電阻率，只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。該裝置施加給定的壓力，同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
技術參數(shù)
測量范圍：10?2至10?Ω。
樣品尺寸：最大300mm見方。
功能與應用
應用領域廣泛：適用于金屬、金屬薄膜、導電涂層、導電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測：導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā)：可用于電子元件和材料的開發(fā)和質量控制。
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