參考價(jià)格
面議型號(hào)
RIGAKU日本理學(xué)新一代形貌檢測(cè)系統(tǒng) XRTmicron品牌
上海翱晶產(chǎn)地
上海樣本
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●X射線源:微焦點(diǎn)高亮度旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極
●入射光學(xué)器件:多層平行光束準(zhǔn)直器
●可使用晶體準(zhǔn)直器
●自動(dòng)更換樣品(以水平配置為例)
●兼容投射&反射幾何的測(cè)角儀系統(tǒng)
●使用高靈敏度和高分辨率X 射線照相機(jī)捕獲數(shù)字圖像
●位錯(cuò)形貌圖像分析
●不僅用于研發(fā),也用于批量質(zhì)量管控
暫無(wú)數(shù)據(jù)!