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面議型號
PSS Nicomp N3000品牌
美國PSS產(chǎn)地
美國樣本
暫無測量范圍：
0.3nm~10um誤差率：
分辨率：
重現(xiàn)性：
±99%儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
測量時間：
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Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
儀器型號：PSS Nicomp N3000 Plus
工作原理：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
檢測范圍： 0.3nm-10.0μm
Nicomp N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優(yōu)勢。
暫無數(shù)據(jù)！
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