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產(chǎn)品特色
■HotDisk是材料熱傳導(dǎo)性能測(cè)試的高性能儀器。
■可同時(shí)檢測(cè)熱導(dǎo)系數(shù)(Thermal Conductivity)、熱擴(kuò)散(Thermal Diffusivity)、熱容(Heat Capacity) 。
■從絕緣材料到高散熱材料都可以檢測(cè)，是目前全世界應(yīng)用面及檢測(cè)應(yīng)用面*廣的熱導(dǎo)系數(shù)儀
■可依客戶需要增加各種測(cè)試模組，進(jìn)行軟體升級(jí)。
■目前Hot Disk提供五種測(cè)試模組：Standard測(cè)試模組、Thin Film測(cè)試模組、Slab測(cè)試模組、Anisotropy測(cè)試模組以及Specific Heat測(cè)試模組。
■可對(duì)導(dǎo)熱性能極低到極高的各種不同類(lèi)型的之材料進(jìn)行測(cè)試。
基本規(guī)格
| 型號(hào) | TPS2500 | TP1S500 | |
| 量測(cè)項(xiàng)目 | 可同時(shí)測(cè)得熱導(dǎo)系數(shù)(Thermal Conductivity， W/mK)，熱擴(kuò)散(Thermal Diffusivity， m2/s)與熱容(Specific Heat， J/m3℃)，并可由比熱量測(cè)模式求得比熱(Specific Heat Capacity， /kg℃)。 | ||
| 量測(cè)范圍 | 0.005 W/mK~500 W/mK | 0.01 W/mK~400 W/mK | |
| 模式 | 標(biāo)準(zhǔn)模式 Standard Method | 標(biāo)準(zhǔn)模式 Standard Method | |
| 選配模式 | *薄膜模式 (Thin Film Method) *高熱傳片狀模式 (Slab Method) *異方向性模式 (Anisotorpic Method) *比熱模式 (Cp Method) | *異方向性模式 (Anisotorpic Method) *比熱模式 (Cp Method) | |
| 量測(cè)溫度 | 10K~1000K(-180~700℃) | ||
| 精密度 | 0.2%以內(nèi) | ||
| 測(cè)試時(shí)間 | 1~2分鐘內(nèi)即可完成測(cè)試 | ||
| 樣品尺寸 | 量測(cè)局部特性：Small Sensor－半徑0.49mm 量測(cè)整體特性：Large Sensor－半徑60mm | ||
| 樣品種類(lèi) | 固體，液體，粉末皆可量測(cè) A. 塊狀樣品 B. 薄膜樣品(20micrometer~600micrometer) | ||
| 儀器特色 | A. 采非破壞性樣品測(cè)試方法 B. 不需輸入比熱(Cp)及密度(D)即可量測(cè)熱導(dǎo)系數(shù) C. 不需裁減樣品即可依樣品大小選取適當(dāng)?shù)膫鞲衅?/p> D. 可擴(kuò)充性：可擴(kuò)充由軟件控溫、控制測(cè)試溫度及取點(diǎn)的高溫爐體及低溫系統(tǒng) | ||
應(yīng)用領(lǐng)域
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