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XRF9能量色散X射線熒光分析儀
nXRF9能量色散X射線熒光分析儀器是基于X射線熒光分析法對樣品進行定性和定量分析、檢測構成元素類別和含量的儀器。
nXRF9可以無損分析塊狀固體、粉末、液體樣品，廣泛應用于質檢、電子、醫(yī)藥、食品、冶金、化工、地礦、考古等領域的研究開發(fā)和品質管理。
（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對試樣進行多元素快速分析。
產品特點
n先進的多光束可調系統(tǒng)
n具有高分辨率的探測器
n采用XYZ三維樣品臺
n大型樣品分析室
nCCD攝像及自動定位系統(tǒng)
n自動調節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)
n完善的輻射安全防護
n強大功能的軟件操作系統(tǒng)
n短時間多元素同時分析
n無損分析和先進的薄樣分析技術相組合
n多種定量分析方法
n無需液氮和水循環(huán)冷卻
n種類齊全的選配標準樣品
nRoHS/WEEE指令快速分析
儀器配置
n外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3
n樣品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3
n主機質量：約45Kg
n工作環(huán)境溫度：0~40oC
n工作環(huán)境相對濕度：≤80%
n元素分析范圍：AI-U
n含量分析范圍：1ppm~99.99%
n重復性：＜5%
n測量時間：一般60~300s
n測量對象：塊狀物體、粉末、液體
n激發(fā)功率：50W
n探測器分辨率：149gev
n輸入電源：AC110V/220V
n高壓電源：0~50kv/0~1mA
nX射線輻射劑量：≤1μSv/h
代表性元素120s*低檢出限LOD(mg/kg)
性能指標
塑料基體 | Cr | Br | Cd | Hg | Pb |
LOD | 8 | 2 | 4 | 4 | 5 |
暫無數(shù)據！
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